Thiết Bị XRF Phân Tích Độ Dày Lớp Phủ/ Xi Mạ Để Bàn
X-Strata920
SKU : #241
Máy đo độ dày xray X-Strata920 (máy phân tích lớp phủ) dựa trên phương pháp huỳnh quang tia X (XRF) là một kỹ thuật đã được chứng minh cung cấp kết quả phân tích nhanh, chính xác và không phá hủy.
X-Strata920 được thiết kế để đo lớp phủ đơn lớp và đa lớp (lên đến 4 lớp phủ trên nền khác)- bao gồm các lớp phủ hợp kim- cho cả ngành công nghiệp hoàn thiện kim loại và điện tử. Các chuyên gia nghiên cứu ứng dụng của Hitachi đã tối ưu hóa X-Strata920 để đảm bảo bạn có được kết quả đáng tin cậy cho hàng trăm ứng dụng bao gồm hoàn thiện bề mặt PCB, lớp phủ xi mạ công nghiệp.
X-Strata920 cung cấp kết quả chính xác và đáng tin cậy trong mỗi Micron.
Các lợi ích:
- Là hệ thống máy phân tích quang phổ XRF hiệu suất cao
- Phân tích mẫu nhanh và chính xác
- Cải thiện độ phân giải với công nghệ bộ đếm SDD cho khả năng đo lường các lớp mỏng hơn với độ chính xác cao
- Thiết lập hiệu chuẩn đơn giản sử dụng tham số cơ bản FP cung cấp kết quả định lượng chính xác và đáng tin khi không có mẫu hiệu chuẩn.
- Phân tích nhanh (10-15 giây) cho cả ứng dụng đơn và đa lớp phủ.
- Tự động đo các mẫu diện tích lớn với chương trình XYZ program, ví dụ: bảng mạch in PCB, tấm phẳng lớn, v.v.
Thông số kỹ thuật:
- Dải nguyên tố phân tích: Ti - U (PC) hoặc Al - U (SDD)
- Số lớp phân tích: 4 lớp + nền. Phân tích đồng thời lên đến 25 nguyên tố.
- Nguồn phát Xray: 50 Watt.
- Bộ đếm: PC hoặc SDD detector.
- Bộ lọc chùm tia thứ cấp: Up to 3 filters for overlap corrections (Vanadium, Cobalt, and Nickel). (only PC detector)
- Tự động lấy tiêu điểm đo bằng laser focus.
- Hiển thị Camera màu, hình ảnh rõ nét.
- Các cấu hình đa dạng:
- Standard base (for parts up to 33 mm in height)
- Mini-well base (for parts up to 160 mm in height)
- XY motorised table, travelling: 178 mm x 178 mm
- Z travel on all configurations: 43 mm.
Click here to see more in our product video
Kho ở Việt Nam : Có sẵn
Liên hệ
